Die Spitzenoptik von Leica Geosystems sorgt beim NA2 & NAK2 für ein helles und konstrastreiches Fernrohrbild.
Kompensatorcheck mittels Druckknopf
Endloshorizontaltrieb für Links- und Rechtshänder
Grob-/Fein-Fokussiertrieb
spielfreie Fussschrauben
optional erhältliche Okulare
Spitzenoptik
Technische Daten
NA2 / NAK2
Genauigkeit*
0.7 mm (je nach Nivellierlatte oder Technik) 0.3 mm (mit Planplattenmikrometer)
Vergrösserung
Standard: 32x FOK73 Okular (als Option): 40x
Kürzeste Zieldistanz
1.6 m
Kompensator-Einspielgenauigkeit
0.3''
* Pro km Doppelnivellement
Für eine grössere Genauigkeit kann ein Planplattenmikrometer über dem Fernrohrobjektiv aufgesteckt werden. Das Planplattenmikrometer ermöglicht direktes Ablesen bis auf 0.1 mm und ein geschätzes Ablesen bis auf 0.01mm. Damit wird das NA2 und das NAK2 zum perfekten Präzisionsnivellier für Deformationsmessungen oder Industrievermessungen.
Für die Ablesung von Horizontalwinkeln verfügt das NAK2 über einen internen Glasteilkreis. Zusammen mit der Distanzberechnung aus der Lattenablesung bringt der NAK2-Kreis den zusätzlichen Vorteil einer Applikation aus der Detailvermessung.
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